層壓板電氣強(qiáng)度試驗(yàn)儀結(jié)果調(diào)取：試驗(yàn)結(jié)果保存調(diào)取 、人員選定調(diào)去 、試驗(yàn)結(jié)果可根據(jù)客戶要求操作整理 、支持5次以上彩線對(duì)比、自動(dòng)整取添加試驗(yàn)數(shù)據(jù)。

01、輸入電壓： 交流 220 V

02、輸出電壓： 交流 0--50KV ;

             直流 0—50kv

03、電器容量：3KVA

04、高壓分級(jí)：0—50KV，（全程可調(diào)）

05、升壓速率：0.1KV/s-5kv/s 可調(diào)

              （備注：滿足標(biāo)準(zhǔn)要求并可以根據(jù)用戶需求設(shè)定不同的升壓速率）

06、試驗(yàn)方式：

           直流試驗(yàn)：1、勻速升壓  2、梯度升壓 3、耐壓試驗(yàn)

           交流試驗(yàn)：1、勻速升壓 2、梯度升壓 3、耐壓試驗(yàn)

07、試驗(yàn)介質(zhì)：空氣

層壓板電氣強(qiáng)度試驗(yàn)儀報(bào)告

除非另有規(guī)定，報(bào)告應(yīng)包括如下內(nèi)容

a) 介電擊穿測(cè)試儀（介電擊穿試驗(yàn)）被試材料的全稱，試樣及其制備方法的說明；

b) 介電擊穿測(cè)試儀（介電擊穿試驗(yàn)）電氣強(qiáng)度的中值<以kV/mm表示>或擊穿電壓的中值（以kV表示）；

c) 介電擊穿測(cè)試儀（介電擊穿試驗(yàn)）每個(gè)試樣的厚度<見5.4)；

d) 試驗(yàn)時(shí)所用的周圍媒質(zhì)及其性能；

e) 電極系統(tǒng)；

f) 施加電壓的方式及頻率；

g) 電氣強(qiáng)度的各個(gè)值（以kV/mm表示>或擊穿電壓的各個(gè)值<以kV表示）；

h) 在空氣中或在其他氣體中試驗(yàn)時(shí)的溫度、壓力和濕度，若在液體中試驗(yàn)時(shí)周圍媒質(zhì)的溫度；

i) 試驗(yàn)前條件處理；

j）擊穿類型和位置的說明。

如果只需要簡(jiǎn)單的結(jié)果報(bào)告，則應(yīng)該報(bào)告前6項(xiàng)內(nèi)容及低值和醉高值。

溫度——試樣和環(huán)境介質(zhì)的溫度將影響絕緣強(qiáng)度，雖然對(duì)于大多數(shù)材料來說，微小的環(huán)境溫度變化對(duì)材料造成影響可以忽略不計(jì)。通常，絕緣強(qiáng)度隨溫度的升高而降低，但其強(qiáng)度的極限取決于被測(cè)材料。由于材料需要室溫以外的條件下發(fā)揮作用，所以有必要在比期望操作溫度更大的范圍里，對(duì)絕緣強(qiáng)度與溫度的關(guān)系進(jìn)行確定。時(shí)間——電壓應(yīng)用的速率也會(huì)影響測(cè)試結(jié)果。通常，擊穿電壓隨電壓應(yīng)用速率的增加而提高。這是預(yù)料之中的，因?yàn)闊釗舸C(jī)制有賴于時(shí)間，而放電機(jī)制也有賴于時(shí)間，雖然在一些情況下，后一種機(jī)制通過產(chǎn)生局部電場(chǎng)高臨界強(qiáng)度造成快速失效波形——通常，應(yīng)用電壓的波形也會(huì)影響絕緣強(qiáng)度。在本測(cè)試方法的限制說明中，波形的影響是不顯著的。頻率——對(duì)于本測(cè)試法，在工業(yè)用電頻率范圍內(nèi)，頻率的變化對(duì)絕緣強(qiáng)度的影響將不是那么顯著。但是，不能從本測(cè)試法所得結(jié)果中推斷出其他非工業(yè)用電頻率（50到60HHz）對(duì)絕緣強(qiáng)度的影響。

固有擊穿——如果放電或熱穩(wěn)定性都不能造成擊穿，那么在電場(chǎng)強(qiáng)度大到足以加速電子穿過材料時(shí)，仍將發(fā)生擊穿。標(biāo)準(zhǔn)電場(chǎng)強(qiáng)度被稱為固有絕緣強(qiáng)度。雖然機(jī)制本身也許已經(jīng)涉及，但本測(cè)試法仍不能測(cè)試固有絕緣強(qiáng)度。絕緣材料的性質(zhì)固態(tài)工業(yè)絕緣材料通常是非均勻的，且含有許多不同的電介質(zhì)缺陷。試樣上常常發(fā)生擊穿的區(qū)域，并不是那些電場(chǎng)強(qiáng)度最大的區(qū)域，有時(shí)甚至是那些遠(yuǎn)離電極的區(qū)域。在應(yīng)力下卷中的薄弱環(huán)節(jié)有時(shí)將決定測(cè)試的結(jié)果。 測(cè)試和測(cè)試樣狀況的影響因素——通常，隨著電極區(qū)域的增加，擊穿電壓會(huì)降低，這種影響對(duì)于薄試樣來說更為明顯。電極的幾何形狀也會(huì)影響測(cè)試的結(jié)果。制作電極的材料也會(huì)對(duì)測(cè)試結(jié)果產(chǎn)生影響，這是因?yàn)殡姌O材料的熱導(dǎo)性和功函會(huì)對(duì)熱機(jī)制和發(fā)電機(jī)制產(chǎn)生影響。通常來說，由于缺乏相關(guān)的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)，所以很難確定電極材料的影響。試樣厚度——固體工業(yè)絕緣材料的絕緣強(qiáng)度主要取決于試樣的厚度。經(jīng)驗(yàn)顯示，對(duì)于固體和半固體材料來說，絕緣強(qiáng)度與以試樣厚度為分母的分?jǐn)?shù)成反比，更多的證據(jù)顯示，對(duì)于相對(duì)均勻的固體來說，絕緣強(qiáng)度與厚度的平方根互為倒數(shù)。如果固體試樣能熔化后倒入到固定電極之間并凝固下來，那么電極間距的影響將很難得到明確的定義。因?yàn)樵谶@種情況下，可以隨意固定電極間距，所以習(xí)慣在液體或可溶固體中進(jìn)行絕緣強(qiáng)度測(cè)試，此時(shí)電極間具有標(biāo)準(zhǔn)的固定空間。因?yàn)榻^緣強(qiáng)度取決于厚度，所以如果在報(bào)告絕緣強(qiáng)度數(shù)據(jù)時(shí)缺乏測(cè)試所用試樣的起始厚度，那么這樣的數(shù)據(jù)將毫無意義。

簡(jiǎn)要回顧了擊穿的三種假定機(jī)制，分別是：（1）放電或電暈機(jī)制，（2）熱機(jī)制，以及（3）固有機(jī)制，討論了在原理上對(duì)實(shí)際電介質(zhì)產(chǎn)生影響的因素，并對(duì)數(shù)據(jù)的解釋提供幫助。擊穿機(jī)制常常與其他機(jī)制相結(jié)合，而非單獨(dú)發(fā)揮效用。隨后的討論僅針對(duì)固體和半固體材料。介電擊穿的假定機(jī)制由放電造成的擊穿——在對(duì)工業(yè)材料進(jìn)行的許多測(cè)試中，都是由于放電造成了擊穿，這通常造成較高的局部場(chǎng)。對(duì)于固體材料來說，放電常常發(fā)生在環(huán)境介質(zhì)中，因此增加測(cè)試的區(qū)域?qū)⒃陔姌O邊緣上或外側(cè)產(chǎn)生擊穿。放電也會(huì)發(fā)生在內(nèi)部出現(xiàn)或生成的一些泡沫或氣泡里。這會(huì)造成局部的侵蝕或化學(xué)分解。這些過程將一直持續(xù)到在電極間形成的失效通路為止。熱擊穿——在置于高強(qiáng)度電場(chǎng)時(shí)，在許多材料內(nèi)的局部路徑上會(huì)積聚大量的熱，這將造成電介質(zhì)和離子導(dǎo)電性能的損失，進(jìn)而迅速產(chǎn)生熱量，所產(chǎn)生的熱量將大于所能耗散掉的熱量。由于材料的熱不穩(wěn)定性，導(dǎo)致了擊穿的發(fā)生。

耐電壓擊穿試驗(yàn)儀調(diào)節(jié)大多數(shù)固體絕緣體的擊穿強(qiáng)度都受到溫度和濕度的影響。因此在測(cè)試前，受此影響的材料應(yīng)用控制好的溫度和相對(duì)濕度進(jìn)行平衡。對(duì)于這種材料，調(diào)節(jié)應(yīng)包括在參照本測(cè)試法的標(biāo)準(zhǔn)中。除非另有說明。否則應(yīng)按D618操作規(guī)程進(jìn)行后續(xù)流程。對(duì)于許多材料來說，濕度對(duì)擊穿強(qiáng)度的影響要大于溫度的影響。對(duì)材料進(jìn)行足夠長(zhǎng)時(shí)間的調(diào)節(jié)，以使得測(cè)試樣同時(shí)達(dá)到濕度和溫度的平衡。如果調(diào)節(jié)時(shí)導(dǎo)致測(cè)試樣表面出現(xiàn)凝結(jié)水，應(yīng)在測(cè)試前將測(cè)試樣表面擦干。通常這樣可以減少表面閃絡(luò)的可能性。

耐電壓擊穿試驗(yàn)儀流程（注意：在開始任何測(cè)試前請(qǐng)參見第7章。）電壓使用的方法：方法A，快速測(cè)試法—如圖1所示，從零點(diǎn)到擊穿發(fā)生，以一定的增壓速度，將均勻的電壓施加到試驗(yàn)電極上。除非另有說明，否則將采用快速測(cè)試法。在確定增壓速度時(shí)，為了使增速包含在新的規(guī)定值中，對(duì)于給定的測(cè)試樣，應(yīng)選擇在10到20s內(nèi)就發(fā)生擊穿的增速。在某些場(chǎng)合，有必要進(jìn)行1到2次的預(yù)測(cè)試，以確定增速。對(duì)于大多數(shù)材料而言，使用500V/s的增速。如果文件參考本測(cè)試方法所的增速，那么即使擊穿時(shí)間偶然出現(xiàn)在10到20s的范圍之外，也應(yīng)繼續(xù)采用。如果出現(xiàn)這種情況，應(yīng)在報(bào)告中記錄下失效次數(shù)。