材料超低電阻及電阻率測(cè)試儀本儀器采用四端測(cè)量方式，測(cè)試材料超低電阻、電阻率和高導(dǎo)電性能數(shù)據(jù)。該儀器采用高精度直流恒流恒壓源，高效率，穩(wěn)定度和準(zhǔn)確性高；有手動(dòng)和自動(dòng)設(shè)定模式；并根據(jù)測(cè)試產(chǎn)品特性自動(dòng)轉(zhuǎn)換測(cè)試量程，無(wú)需手動(dòng)調(diào)節(jié)和設(shè)定。4.3吋液晶屏幕顯示，自動(dòng)顯示測(cè)試測(cè)試電流、電壓、溫度、電阻率、電導(dǎo)率、電阻值、方阻等數(shù)據(jù)，單位可以轉(zhuǎn)換；選配：如配備軟件可通過(guò)軟件操控儀器工作，并獲得測(cè)試數(shù)據(jù)之圖表和測(cè)試結(jié)果報(bào)表，有助于對(duì)產(chǎn)品過(guò)程質(zhì)量分析；根據(jù)產(chǎn)品形狀不同可以選配測(cè)試治具.輔助測(cè)量。

適用：電線電纜行業(yè)、導(dǎo)體及半導(dǎo)體材料行業(yè)，碳素、焦化、石化、粉末冶金、高等院校、科研部門(mén)對(duì)新材料之研究，是檢驗(yàn)和分析材料樣品質(zhì)量的一種重要的工具及有效方法。

滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)： GB/T6717、GB/T 24525-2009、YS/T63.2、 ISO 11713-2000、YS/T63.2-2005、YS/T 64-1993。GB3048.2-2007、GB/T3048.4-2007、GB/T3952-2008、GB/T3953-2009、GB/T3954-2008、GB/T3955-2009、GB/T3956-2008同時(shí)也適用于對(duì)導(dǎo)體材料電導(dǎo)率高要求之測(cè)試超低值電阻及電阻率測(cè)量.

技術(shù)參數(shù)

1、電阻率： 1×10-6～2×106Ω.cm、

電   阻：1×10-5～2×105Ω

電導(dǎo)率：5×10-6～1×108ms/cm

分辨率：  小1μΩ
測(cè)量誤差±5%
2、測(cè)量電壓量程： 2mV   20mV  200mV 2V 
   測(cè)量精度±（0.1%讀數(shù)）

分辨率：  0.1uV  1uV  10uV  100uV
3、⑴電流輸出：直流電流 0～1000mA 連續(xù)可調(diào)，由交流電源供電。
   ⑵量程：1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，1000mA, 
   ⑶誤差：±0.2%讀數(shù)±2字

4. 主機(jī)外形尺寸：330mm*340mm*120mm

5、顯示方式：液晶顯示6、電源：220±10% 50HZ/60HZ

7、標(biāo)配：測(cè)試平臺(tái)一套、主機(jī)一套、電源線數(shù)據(jù)線一套。

測(cè)量范圍、分辨率（括號(hào)內(nèi)為拓展量程，可定制）

材料超低電阻及電阻率測(cè)試儀概述：本品為解決四探針?lè)y(cè)試超低阻材料方阻及電阻率，zui小可以測(cè)試到1uΩ方阻值，是目前同行業(yè)中能測(cè)量到的zui小值，采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運(yùn)輸安全、使用方便；適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén)，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類(lèi)測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示，無(wú)需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置。選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成報(bào)表；

雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測(cè)量，對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測(cè)分析，自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響，它與單電測(cè)直線或方形四探針相比，大大提高度，特別是適用于斜置式四探針對(duì)于微區(qū)的測(cè)試。選購(gòu)：本機(jī)還可以配合各類(lèi)環(huán)境溫度試驗(yàn)箱體使用，通過(guò)不同的測(cè)量治具滿(mǎn)足不同環(huán)境溫度下測(cè)量方阻和電阻率的需求.

廣泛用于：覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類(lèi)箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測(cè)試硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻  半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽(yáng)能電池、電子元器件，導(dǎo)電薄膜（ITO導(dǎo)電膜玻璃等），金屬膜，導(dǎo)電漆膜，蒸發(fā)鋁膜，PCB銅箔膜，EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率  導(dǎo)電性油漆，導(dǎo)電性糊狀物，導(dǎo)電性塑料，導(dǎo)電性橡膠，導(dǎo)電性薄膜，金屬薄膜，抗靜電材料， EMI 防護(hù)材料，導(dǎo)電性纖維，導(dǎo)電性陶瓷等