四探針電阻率測試儀（雙電）可直接測量電極1和2之間表面間隙的電阻。這樣測得的電阻包括了電極1和2之間的表面電阻和這兩個電極間的體積電阻。

還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量。配探頭

注：由于通過試樣內層的電流的影響，表面電阻率的計算值與試樣和電極的尺寸有很大的關系，因此，為了測定時可進行比較，推薦使用與圖2所示的電極裝置的尺寸相一致的試樣，其中d1= 50 mm, d2 = 60 mm, ds = 80 mm,

量程： 20.00mV

本儀器廣泛用于生產企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。

還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量。配探頭

然而，對于很寬范圍的環(huán)境條件和材料性能，當電極尺寸合適時， 體積電阻的影響可忽略不計。

薄片電阻率測量:

四探針電阻率測試儀（雙電）

配置不同測量裝置測試不同類型材料之電阻率.

當薄片厚度與針距比 W/S>0.5 時， 設定電阻率基本系數(shù) C，參照表 5.1，厚度修正 G<1.000,形狀位置修正 D<1.000,具體值 G（W/S）和 D（d/S）要查附表 1 和附表 2， 只讀結果。

PC軟件過程數(shù)據(jù)處理.

當薄片厚度與針距比 W/S>0.5 時， 設定電阻率基本系數(shù) C，參照表 5.1，厚度修正 G<1.000,形狀位置修正 D<1.000,具體值 G（W/S）和 D（d/S）要查附表 1 和附表 2， 只讀結果。

四端測試法是目前較*之測試方法，主要針對高精度要求之產品測試；本儀器廣泛用于生產企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。

工作室內應無強電磁場干擾，不與高頻設備共用電源。

為測定表面電阻率，試樣的形狀不限，只要允許使用第三電極來抵消體積效應引起的誤差即可。

測試類別的快捷選擇方式，方便了用戶同時測試多個參數(shù)，提高測試效率。

電源

外形尺寸：

阻率： 1×10-6～2×106Ω.cm、

電   阻：1×10-5～2×105Ω

電導率：5×10-6～1×108ms/cm

分辨率：  小1μΩ
測量誤差±5%
測量電壓量程： 2mV   20mV  200mV 2V 
測量精度±（0.1%讀數(shù)）

分辨率：  0.1uV  1uV  10uV  100uV
電流輸出：直流電流 0～1000mA 連續(xù)可調，由交流電源供電。

量程：1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，1000mA, 
誤差：±0.2%讀數(shù)±2字

主機外形尺寸：330mm*340mm*120mm

顯示方式：液晶顯示6、電源：220±10% 50HZ/60HZ

標配：測試平臺一套、主機一套、電源線數(shù)據(jù)線一套。

PC軟件過程數(shù)據(jù)處理.

四端測量法.

外形尺寸：

四探針方阻電阻率測試儀是目前較*之測試方法，主要針對高精度要求之產品測試；

四探針測試探頭

化導致的電流變化與被測電流相比可忽略不計。

測試類別的快捷選擇方式，方便了用戶同時測試多個參數(shù)，提高測試效率。

標準電阻校準儀器.

結果。

也可以使用條形電極或具有合適尺寸的其他裝置。

也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO 膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具