—— PROUCTS LIST
- 電壓擊穿試驗(yàn)儀
- 電阻測(cè)試儀
- 介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀
- 拉力試驗(yàn)機(jī)
- 總有機(jī)碳分析儀
- 低溫脆性沖擊試驗(yàn)機(jī)
- 完整性測(cè)試儀
- 漏電起痕試驗(yàn)機(jī)
- 磨擦磨損試驗(yàn)機(jī)
- 耐電弧試驗(yàn)儀
- 門(mén)尼粘度儀
- 落錘沖擊試驗(yàn)機(jī)
- 垂直燃燒試驗(yàn)儀
- 熱老化試驗(yàn)箱
- 氧指數(shù)試驗(yàn)儀
- 泡沫落球回彈試驗(yàn)儀
- 橡膠硫化儀
- 氣動(dòng)沖片機(jī)
- 啞鈴制樣機(jī)
- 熱變形維卡軟化點(diǎn)測(cè)試儀
- 落球沖擊試驗(yàn)機(jī)
- 阿克隆摩擦試驗(yàn)機(jī)
- 恒溫恒濕試驗(yàn)箱
- 海綿落球回彈率測(cè)試儀
- 塑料球壓痕硬度計(jì)
- 毛細(xì)管流變儀
- 裁刀
- 海綿泡沫壓陷硬度試驗(yàn)儀
- 擺錘沖擊試驗(yàn)機(jī)
- 熱變形維卡軟化點(diǎn)測(cè)定儀
- 熔體流動(dòng)速率儀
- 平板硫化機(jī)
- 簡(jiǎn)支梁沖擊試驗(yàn)機(jī)
- 微量水分測(cè)定儀
- 制樣機(jī)
- 灼熱絲試驗(yàn)儀
- 疲勞沖擊測(cè)試儀
- 缺口制樣機(jī)
- 差示掃描量熱儀
- 紫外老化試驗(yàn)箱
- 可塑性試驗(yàn)機(jī)
- 導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)定儀
- 鼓風(fēng)干燥箱
- 邵氏硬度計(jì)
- 海綿泡沫拉伸強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī)
- 電池內(nèi)阻測(cè)試儀
- 石油產(chǎn)品全自動(dòng)凝點(diǎn)傾點(diǎn)測(cè)試儀
- 閉口閃點(diǎn)全自動(dòng)測(cè)定儀
影響介電擊穿強(qiáng)度的因素有哪些?
閃絡(luò)-指高壓電器(如高壓絕緣子)在絕緣表面發(fā)生的放電現(xiàn)象,成為表面閃絡(luò),簡(jiǎn)稱閃絡(luò)。
絕緣閃絡(luò):絕緣材料在電場(chǎng)作用下,尚未發(fā)生絕緣結(jié)構(gòu)的擊穿時(shí),在其表面或與電極接觸的空氣(離子化氣體)中發(fā)生的放電現(xiàn)象,成為絕緣閃絡(luò)。
1.電壓波形直流、工頻正弦及沖擊電壓下,擊穿機(jī)理不同,所測(cè)的擊穿場(chǎng)強(qiáng)也不同,工頻交流電壓下的擊穿場(chǎng)強(qiáng)比直流和沖擊電壓下的低得多
2.。電壓作用時(shí)間,無(wú)論電擊穿還是熱擊穿都需要時(shí)間,隨著加壓時(shí)間的增長(zhǎng),擊穿電壓明顯下降。
3、電場(chǎng)的均勻性及電壓的極性,電場(chǎng)不均勻往往測(cè)得的電壓比本征擊穿值低。
4、試樣的厚度與不均勻性試樣的厚度增加,電極邊緣電場(chǎng)就更不均勻,試樣內(nèi)部的熱量更不易散發(fā),試樣內(nèi)部的含有缺陷的幾率增大,這些都會(huì)使擊穿場(chǎng)強(qiáng)下降。
5.環(huán)境條件試樣周圍的環(huán)境條件,如溫度、濕度以及壓力等都會(huì)影響試樣的擊穿場(chǎng)強(qiáng);溫度升高,通常會(huì)使擊穿場(chǎng)強(qiáng)下降;濕度增大,會(huì)使擊穿場(chǎng)強(qiáng)下降;氣壓對(duì)擊穿場(chǎng)強(qiáng)的影響,主要是對(duì)氣體而言。氣壓高,擊穿場(chǎng)強(qiáng)升高:但接近真空時(shí),也會(huì)使擊穿場(chǎng)強(qiáng)升高。另外還有:時(shí)間、輻射、機(jī)械力、電極材料及極性效應(yīng)。
輸入電壓: 交流 220 V
輸出電壓: 交流/直流 0--150kv
電器容量: 10KVA
高壓分級(jí):0-150kv
升壓速率:0.1-5kv(隨意)
試驗(yàn)方式:交/直流試驗(yàn):1、勻速升壓 2、梯度升壓 3、耐壓試驗(yàn)
試驗(yàn)介質(zhì):空氣/絕緣油
電壓試驗(yàn)精度: ≤1%
電源:220v±10%的單相交流電壓和50Hz±1%的頻率
升壓裝置:采用*無(wú)觸點(diǎn)原件勻速升壓淘汰前款機(jī)械調(diào)壓
耐壓時(shí)間:0-7H保持相對(duì)電壓 (軟件設(shè)定)
漏電流選擇0-100MA
耐壓式樣:固體;液體。
控制方式:無(wú)線藍(lán)牙安全控制
通訊方式:支持 232/USB/亞太區(qū)域網(wǎng)絡(luò)端口
擊穿判斷方式:高電壓判斷、漏電流判斷。